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          產品詳情
          • 產品名稱:LED 全光通量手動測試系統

          • 產品型號:58173-M
          • 產品廠商:chroma(致茂)
          • 產品文檔:
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          簡單介紹:
          Chroma 大面積光偵測器 全新且獨特之 LED 全光通量量測方式 手動精密LED wafer/chip 點測設備 提供全方位電性測試平臺
          詳情介紹:

          硬設備

        1. 手動精密 LED wafer/chip 點測設備
        2. 漏電流測試模塊
        3. 電源量測單元
        4. 光學測試模塊
        5. ESD 測試模塊(選配)

          Chroma 58173-M 是全新獨特的量測LED全光通量之手動測試設備。在LED的裸晶與晶粒測試生產線中,常見使用部份光通量來取代全光通量之量測方式 (見圖1) 。然而,傳統的量測方式存在一些缺點,例如: 準確度較低、訊噪比較低、與測試時間較長等,以致于導入LED wafer/chip 生產線時會發生問題。

          Chroma 58173-M 研發出一種高速精準的LED全光通量的量測方式 (見圖 2)。 這種**方式不僅比傳統方式收集更多的LED部分光通量,也明顯提升了量測**度。

          在光學量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可透過 Chroma 獨特之光學設計與組件取得**、穩定、快速之數據;在機構方面,58173-M 搭載一個6吋之芯片載盤與校正基座,提供使用者一個完整的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173-M 提供一個完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一次滿足使用者的測試需求。

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